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技術(shù)支持

X射線熒光光譜分析儀的優(yōu)缺點(diǎn)介紹
更新時(shí)間:2016-10-08   點(diǎn)擊次數(shù):1071次
      X射線熒光光譜分析儀可以測(cè)定物質(zhì)中元素的含量,在冶金、地質(zhì)、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個(gè)領(lǐng)域都有著廣泛的應(yīng)用。X射線熒光光譜分析儀可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品,具有分析速度快、測(cè)量范圍寬、干擾小的特點(diǎn)。
      X射線熒光光譜分析儀的優(yōu)點(diǎn)有:1、X射線熒光光譜的檢測(cè)和樣品化學(xué)狀態(tài)無(wú)關(guān)。無(wú)論是固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)都可以進(jìn)行檢測(cè)。2、分析速度快。測(cè)定用時(shí)與測(cè)定精密度有關(guān),但一般都很短,可以快速測(cè)完樣品中的全部待測(cè)元素。3、重現(xiàn)性好。在測(cè)定中不會(huì)引起試樣的化學(xué)狀態(tài)改變,也不會(huì)出現(xiàn)試樣飛散的現(xiàn)象??梢苑磸?fù)測(cè)量同一試樣,結(jié)果重現(xiàn)性好。X射線熒光光譜分析儀的缺點(diǎn)有:1、進(jìn)行定量分析需要標(biāo)準(zhǔn)試樣。2、容易受到相互元素和疊加峰的干擾,影響測(cè)試結(jié)果
3、對(duì)輕元素的靈敏度要低一些。
      X射線熒光光譜分析儀可以對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素進(jìn)行分析,分析精密度高,是非常實(shí)用的測(cè)量分析儀器。

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